The Reliability of Electron Devices and Circuits group (REDEC) is within the Electronic Engineering Department (DEE) of the Universitat Aut?noma de Barcelona (UAB). REDEC?s research is focused on the electron devices and circuits of micro and nano CMOS technologies.
El Grupo de Fiabilidad de Dispositivos y Circuitos Electr?nicos (REDEC) forma parte del Departamento de Ingenier?a Electr?nica (DEE) de la Universidad Aut?noma de Barcelona (UAB). Su investigaci?n se centra en los dispositivos y circuitos propios de tecnolog?as CMOS micro y nanoelectr?nicas.
El Grup de Fiabilitat de Dispositius i Circuits Electr?nics (REDEC) forma part del Departament d'Enginyeria Electr?nica (DEE) de la Universitat Aut?noma de Barcelona (UAB). La seva recerca es focalitza en els dispositius i circuits propis de tecnologies CMOS micro i nanoelectr?niques.
